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深圳市谷易電子生產(chǎn)的該BGA系列主要應(yīng)用于新能源汽車車規(guī)芯片老化測(cè)試用， 適用于電源轉(zhuǎn)換芯片老化測(cè)試、動(dòng)力分配傳感器芯片老化測(cè)試、電源管理芯片老化測(cè)試，包含汽車EMC芯片老化測(cè)試、汽車氣壓控制芯片老化測(cè)試、汽車DSP控制器芯片老化測(cè)試、汽車液位檢測(cè)設(shè)備芯片老化測(cè)試、汽車ECU芯片老化測(cè)試、壓力傳感器芯片老化測(cè)試、汽車ASC芯片老化測(cè)試，同時(shí)還生產(chǎn)其他種類齊全的芯片封裝測(cè)試座/老化座/燒錄座/測(cè)試jia具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 BGA676測(cè)試架參數(shù)：676pin 0.5mm間距，31×31mm 頻率：27M