產(chǎn)品介紹
可變衰減器概述：
光收發(fā)器有各種各樣的外形和不同的調(diào)制格式，都適應(yīng)特定的傳輸速率和網(wǎng)絡(luò)拓?fù)湟蟆?nbsp;
例如，核心網(wǎng)和數(shù)據(jù)中心要求的速率通常高（400G），而5G前傳要求的速率較低，如25G和50G。
在編碼調(diào)制方面，NRZ主要用于1G到100G之間的光器件，而PAM4則是用于100G以上光器件的關(guān)鍵技術(shù)。
ExfoIQS-3150可變光衰減器特點(diǎn)：
在生產(chǎn)制造過(guò)程中，重要的是確保符合行業(yè)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)的要求。
廠商應(yīng)該尋找一種簡(jiǎn)單、方法來(lái)快速準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)試收發(fā)器。
這涉及到多個(gè)電氣和光學(xué)測(cè)試，可分為兩類：
1.晶片級(jí)測(cè)試：在收發(fā)器的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程中，測(cè)試內(nèi)部器件的參數(shù)。
2.功能測(cè)試：主要用于質(zhì)量控制，在收發(fā)器制造完成后進(jìn)行。
端到端收發(fā)器驗(yàn)證通常需要一臺(tái)誤碼儀，它連接到安裝收發(fā)器樣品的MCB板卡。
在收發(fā)器光測(cè)試中，信號(hào)被發(fā)射出去并被分成幾個(gè)部分以測(cè)試所有參數(shù)，一部分到采樣示波器進(jìn)行眼圖分析，一部分到可變背向反射器進(jìn)行反射率測(cè)試，一部分到與功率計(jì)級(jí)聯(lián)的可變光衰減器（VOA）進(jìn)行靈敏度測(cè)試，還有一部分到光譜分析儀進(jìn)行波長(zhǎng)驗(yàn)證和邊模抑制比（SMSR）測(cè)試。
目前的主要挑戰(zhàn)是如何在不降低質(zhì)量的前提下加快生產(chǎn)與制造速度。
這就是可靠、快速的端到端測(cè)試至關(guān)重要的原因所在。
在深入研究測(cè)試時(shí)要考慮的因素之前，我們首先大概了解一下現(xiàn)有的光收發(fā)器。
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