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3.2×1.5-2PIN晶振探針老化座/測試座 （通孔焊接型） 產(chǎn)品簡介 一、產(chǎn)品用途:老化座、測試座，對3215（3.2*1.5mm）的晶振IC進(jìn)行高低溫老化測試 二、適用封裝: 3215（3.2*1.5mm）-2PIN貼片晶振 三、探針結(jié)構(gòu)，接觸穩(wěn)定、體積小。 四、采用特殊的工程塑膠，強度高、壽命長 五、鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結(jié)構(gòu)20000次） 六、我司可提供規(guī)格書（布板圖）資料，PDF檔\CAD檔