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半導體電性能測試應用的Z業領域十分廣泛，分別有：微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學與工程、材料與能源、電子科學與工程、光電信息與能源工程等等等...

數字源表作為電學測量的常用儀器，在高校和研究所的相關實驗室內幾乎都能看到，源表集多表合一、配上Z業軟件即可實現各種定制測量，使用非常廣泛。 S型數字源表在一個半機架尺寸的儀器中結合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載等功能，這些測試功能，令S型觸摸屏數字源表具有I-V特性測試系統、曲線追蹤儀和半導體分析儀的各種測試能力，而成本更低廉。半導體器件I-V測試系統認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；
半導體器件I-V測試系統都有哪些應用呢？

實驗篇

在實際應用中，不同Z業領域所進行的電性能測試實驗是不同的，下面就來展示一些典型的實驗現象。

I-V特性測試

電流電壓我都要，性能測試有一套！





C-V特性測試







輸入/輸出特性測試



輸入特性曲線



輸出特性曲線



反向擊穿電壓測試





講到這里，小編還是要說一句，半導體電性能測試實驗遠遠不止這些，在各種實驗項目中,多功能數字源表不可缺。

普賽斯儀表專注于半導體電性能測試領域，基于高精度數字源表綜合實驗平臺，可提供多種實驗測量環境，搭配豐富的測試夾具及實驗器材，滿足半導體電性能測試需求，提高測試效率。
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