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一、儀器名稱：臺式X熒光鍍層測厚儀X-Strata920
二、儀器型號：X-Strata920
三、生產廠家：日立分析儀器
四、產地：德國
山東總代：青島浩正科儀智能技術有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71
五、儀器簡單介紹
X-Strata920XRF，鍍層測厚儀，zui高jing確度，zui少浪費
若不足一微米在您的鍍層測量業務成敗中舉足輕重，則請選擇X-Strata920。
您可選擇比例計數器或硅漂移探測器（SDD），確保擁有正確配置。
如果您從事電子或金屬表面處理，我們可提供適合您業務的解決方案。X-Strata920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。
我們的內部應用專家對X-Strata920進行了優化，確保您獲得可靠、可重復結果以滿足百種應用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕性處理、裝飾表面處理、耐磨損處理和耐高溫處理等。
山東總代：青島浩正科儀智能技術有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71
六、 儀器選型
半自動固定樣品臺：
?Z軸自動控制，移動行程：43mm ( ")，XY軸手動控制
?樣品臺高度固定，測量zui大樣品高度33mm
?儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（不含電腦和顯示器）
半自動加深樣品臺
?Z軸自動控制，移動行程：43mm ( ")，XY軸手動控制
?樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調，每格高度
?zui大樣品高度160mm
?樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm
?儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm(不含電腦和顯示器)
?自定義樣品臺：依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度大于160mm的樣品測量，倉內抽屜式設計，多個位置上下可調，每格高度
全自動樣品臺
?Z軸自動控制，移動行程：43mm ( ")，XY軸自動控制
?可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量
?鼠標控制樣品臺移動，jing確地定位樣品測量點
?測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式
?樣品臺移動行程：178×178mm
?樣品臺尺寸：寬610×深560mm
?zui大樣品高度33mm
?儀器外形尺寸：寬610×深1037×高375mm(不含電腦和顯示器)