產(chǎn)品介紹
（1）高光譜礦物掃描分析】①原理：基于反射光譜分析技術，利用光譜儀采集和測量巖心在4002500nm波長范圍內(nèi)的反射波譜，依據(jù)其光譜診斷性特征來計算和識別不同的礦物，最終形成礦物學信息。
②測試礦物種類：目前市場應用成熟的技術為中低溫蝕變礦物（一般為含水硅酸鹽礦物）的識別。如在可見光近紅外區(qū)域（4001000nm）可識別礦物：鐵氧化物礦物、含鐵礦物、稀土礦物等；在短波紅外區(qū)域（10002500nm）可識別礦物：烴類物質(zhì)、含羥基類礦物、磷酸鹽類礦物、硫酸鹽類礦物、碳酸鹽類礦物等，具體見表2。此外據(jù)調(diào)研，高溫蝕變礦物（無水硅酸鹽礦物，如石英，長石，輝石，石榴子石，橄欖石等）的光譜掃描技術在實驗室也已經(jīng)成熟，但尚未做市場應用。
【高光譜技術識別礦物種類匯總：】
AlOH：鈉云母、白云母、伊利石、葉蠟石、蒙脫石、高嶺石等。
FeOH：綠脫石、鐵蒙脫石等。
MgOH：綠泥石、滑石、綠簾石、金云母、葉蛇紋石、透閃石、角閃石等。
SiOH：乳白石英石、異極礦等。
碳酸鹽類：方解石、白云石、鐵白云石、菱鎂礦、菱鐵礦等。
硫酸鹽類：明礬石、黃鉀鐵釩、石膏。
PFD
SWIR
RGB
OWL
光譜范圍
400-1000 nm
970-2500nm
不適用
8-12μm
光譜波段
768
288
3(RGB)
84
光學分辨率FWHM
nm
12nm
不適用
100nm
像素/圖像掃描線 1775
384
1775
384
4000
384
目標像素大小 mm
-
-
樣本尺寸 1500x650x200mm(LxWxH)， 50公斤
整體系統(tǒng)重量 根據(jù)相機配置~500公斤
操作條件 實驗室類型環(huán)境。 允許少量粉塵..
操作電壓 110至220V和50/60HZ電源
意圖校準 光譜校準
數(shù)據(jù)。 標準化 白平衡 光譜校準數(shù)據(jù)。 標準化
也可提供亞毫米精度的三維掃描儀，用于巖芯表面和裂縫映射。
*)取決于VN IR光譜組合
