產(chǎn)品介紹
場發(fā)射掃描電子顯微鏡/能譜儀檢測 聚儀網(wǎng)供
檢測名稱:
場發(fā)射掃描電子顯微鏡/能譜儀
檢測價格:
品 牌：
FEI Electron Optics
型 號：
Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS
所 在 地：
上海市
儀器詳情：
詳細信息與指標：
制造廠商： FEI Electron Optics
儀器編碼： W1031
生產(chǎn)國別： 捷克
分類編碼： 010102
購置日期： 2009-11-07
規(guī)格型號： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS
功能/應用范圍：以很高的分辨率對物質(zhì)微觀形貌進行顯微成像分析；測定物質(zhì)結構；在物質(zhì)微觀形貌及結構進行分析的同時，對物質(zhì)成分進行微區(qū)分析，微區(qū)尺寸可為納米尺度。
主要附件：能譜儀
主要技術指標：分辨率二次電子(SE)成像：高真空模式：30kV時 nm；1kV時 低真空模式：30kV時 nm；3kV時 ESEM？環(huán)境真空模式: 30kV時 nm背散射電子(BSE)成像：30kV時 nm放大倍數(shù)高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x
技術特色：高分辨率，觀察形貌分析結構。
服務實例：來樣為船用花鍵軸，在使用時間約48小時發(fā)生斷裂，浙江漢力士船用推進系統(tǒng)股份有限公司上 海分公司委托我中心對花鍵軸進行斷裂原因分析。 斷裂花鍵軸斷裂位置為光軸區(qū)域，該區(qū)域無臺階及加工R角等應力集中，同類型花鍵軸的一直 使用從未發(fā)生過如此早期斷裂，可以排除其設計問題；花鍵軸在斷裂后一直運轉(zhuǎn)，斷面嚴重磨 損，給檢測帶來 難度，本案研究的關鍵是通過分析判斷確定花鍵軸早期斷裂的原因。 通過宏觀觀察，化學分析，力學性能檢驗、掃描電鏡斷口分析，金相檢驗等分析手段，找到花 鍵軸材料本身是否存在缺點，加工使用
服務信息
接待時間（工作日）：周一到周五
收費標準（元/樣品）：800
儀器聯(lián)系人：沙菲
商家信息：
商家名稱： 上海材料
