寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體測試儀器特點： 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力； 測量精度高,全量程下可達0.03%精度； 內置標準器件測試程序，直接調用測試簡便； 自動實時參數提取，數據繪圖、分析函數； 在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線； 提供靈活的夾具定制方案，兼容性強； 免費提供上位機軟件及SCPI指令集； 典型應用： 納米、柔性等材料特性分析； 二極管； MOSFET、BJT、晶體管、IGBT； 第三代半導體材料/器件； 有機OFET器件； LED、OLED、光電器件； 半導體電阻式等傳感器； EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管； 電阻率系數和霍爾效應測量； 太陽能電池； 非易失性存儲設備； 失效分析； 寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導體測試儀器是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研究、半導體芯片器件設計以及X進工藝的開發，具有桌越的測量效率與可靠性。 基于模塊化的體系結構設計，SPA-6100半導體參數分析儀可以幫助用戶根據測試需要，靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量，同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量。SPA-6100半導體參數分析儀搭載普賽斯自主開發的專用半導體參數測試軟件,支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作,能夠從測量設置、執行、結果分析到數據管理的整個過程，實現G效和可重復的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測試需求。