HS-MWR-SIM無接觸少子壽命測試儀是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到20ms,電阻率量程為>0.1Ω.cm,,是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業多得的測量儀器。   產品特點 ■ 無接觸和無損傷測量 ■ 可移動掃描頭，便于測量 ■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量 ■ 主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等 ■ 性價比高，極程度地降低了企業的測試成本 ■ 質保期：1年     推薦工作條件 ■ 溫度：15-30℃ ■ 濕度：10%~80% ■ 大氣壓：750±30毫米汞柱   技術指標 ■ 少子壽命測試范圍:0.1μs-20ms ■ 測試尺寸:尺寸不限 ■ 測試時間：1-30s(具體和信號質量及測試精度有關) ■ 電阻率范圍：>0.1Ω.cm ■ 激光波長：980±30nm,測試功率范圍：50-500mw,脈沖寬度調節范圍：0.5-60μs ■ 儀器測試精度：±3.5％ ■ 工作頻率：10GHz±0.5 ■ 微波測試單元功率：0.01W±10% ■ 電源：～220V  50Hz    功耗＜30W ■ 掃描頭尺寸：290mm *200mm *65mm, 電器控制單元: 210mm*220mm*60mm ■ 掃描頭重量：3KG，電器控制單元：1kg 典型客戶 河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶。