（1）高光譜礦物掃描分析】①原理：基于反射光譜分析技術，利用光譜儀采集和測量巖心在4002500nm波長范圍內的反射波譜，依據其光譜診斷性特征來計算和識別不同的礦物，最終形成礦物學信息。 ②測試礦物種類：目前市場應用成熟的技術為中低溫蝕變礦物（一般為含水硅酸鹽礦物）的識別。如在可見光近紅外區域（4001000nm）可識別礦物：鐵氧化物礦物、含鐵礦物、稀土礦物等；在短波紅外區域（10002500nm）可識別礦物：烴類物質、含羥基類礦物、磷酸鹽類礦物、硫酸鹽類礦物、碳酸鹽類礦物等，具體見表2。此外據調研，高溫蝕變礦物（無水硅酸鹽礦物，如石英，長石，輝石，石榴子石，橄欖石等）的光譜掃描技術在實驗室也已經成熟，但尚未做市場應用。 【高光譜技術識別礦物種類匯總：】 AlOH：鈉云母、白云母、伊利石、葉蠟石、蒙脫石、高嶺石等。 FeOH：綠脫石、鐵蒙脫石等。 MgOH：綠泥石、滑石、綠簾石、金云母、葉蛇紋石、透閃石、角閃石等。 SiOH：乳白石英石、異極礦等。 碳酸鹽類：方解石、白云石、鐵白云石、菱鎂礦、菱鐵礦等。 硫酸鹽類：明礬石、黃鉀鐵釩、石膏。 PFD SWIR RGB OWL 光譜范圍 400-1000 nm 970-2500nm 不適用 8-12μm 光譜波段 768 288 3(RGB) 84 光學分辨率FWHM 3.0 nm 12nm 不適用 100nm 像素/圖像掃描線 1775 384 1775 384 4000 384 目標像素大小 0.56 mm 0.161.6mm 0.016-0.16mm 0.5-1.6mm 樣本尺寸 1500x650x200mm(LxWxH)， 50公斤 整體系統重量 根據相機配置~500公斤 操作條件 實驗室類型環境。 允許少量粉塵.. 操作電壓 110至220V和50/60HZ電源 意圖校準 光譜校準 數據。 標準化 白平衡 光譜校準數據。 標準化 也可提供亞毫米精度的三維掃描儀，用于巖芯表面和裂縫映射。 *)取決于VN IR光譜組合